Descrição dos itens básicos e acessórios disponíveis para o difratômetro: Xpert PRO MPD (Multi-Purpose Diffractometer ) do LDRX.

Descrição geral

Difratômetro de raios-x modelo X`Pert Pro para análise de fases em reflexão e transmissão, Rietveld, filmes finos, textura, incluindo detector X´Celerator, câmara de alta temperatura e estagio para amostras em capilar.

Condições Não ambiente:  Câmara de alta temperatura (<1600°C)  HTK 16;

 Descrição Detalhada

PW3040/60	Console do difratômetro X’Pert Pro, para um ou dois goniômetros.	O gabinete possui um gerador de alta tensão com 3kW de potência operado a freqüências ultra-sônicas. Os ajustes máximos são 60kV e 60 mA. O console ainda incorpora um display de status em tempo real do sistema. Os componentes da óptica de raios-x (estagio goniométrico, feixe incidente e feixe difratado ) são trocados sem a necessidade de realinhamento da óptica do difratômetro.
PW3050/60	Goniômetro θ-θ de alta performance	, desacoplado, acionado por motores de corrente contínua e posicionados pelo sistema DOPS ( Direct Optical Position Sensing ) desenvolvido pela PANalytical que permite posicionamento rápido e melhor precisão.  Outra característica deste goniômetro é o não uso de rolamentos. Os eixos são posicionados concentricamente através de um sistema de auto-lubrificação que maximiza a estabilidade mecânica do goniômetro além de não apresentar desgaste mecânico. O goniômetro possui as seguintes características técnicas: Reprodutibilidade: +/- 0,0001º (2θ)Operação: θ-2θ ou θ-θ.Tamanho de passo min: 0,001ºVelocidade de varredura: 0,000001º à 1,27º/sVelocidade de posicionamento: 12º/sRaio difratométrico: 240mm
	Chiller	sistema de refrigeração do tubo e da HTK16
Tubos de raios X
PW3373/10	Tubo de raios-x anodo de Cobre  LFF	tubo cerâmico especifico para geometria Alpha-1 ou espelhos parabólicos. Máxima Potência: 1,8 kWMáxima Voltagem: 50 kVMáxima Corrente: 55 mAAjuste máximo recomendado 45 kV, 40 mAJanela de Be com 94% de transmitância para radiação k-alfa do CuFoco linha e Foco Ponto
9430 92200051	Tubo de raios-x anodo de Molebidênio  LFF	tubo cerâmico de alta potência.Máxima Potência: 3,0 kWMáxima Voltagem: 60 kVMáxima Corrente: 55 mAAjuste máximo recomendado 60 kV, 50 mAJanela de Be com 98% de transmitância para radiação k-alfa do CuFoco linha e Foco Ponto
Óptica
PW3085/41	Fenda soller larga de 0.04 rad	para usar no feixe difratado tanto com detector Xcelerator quanto com colimador de placas paralelas do detector proporcional de Xe
PW3085/40	Fenda soller  de 0.04 rad	para usar no feixe incidente para limitar a divergência equatorial.
PW3085/21	Fenda soller larga de 0.02 rad	para usar no feixe difratado tanto com detector Xcelerator quanto com detector proporcional de Xe
PW3085/20	Fenda soller  de 0.02 rad	para usar no feixe incidente
PW3494/30	Fendas anti espalhamento fixas	para feixe difratado com aberturas de 13; 8,7; 6,6; 5,5; 5 e 0,2 mm. Específicas para uso do porta amostra girante (reflection-transmission spinner) com detector X´Celerator.
PW3494/35	Fenda anti-espalhamento fixa	para uso com amostras em capilar e detector X´Celerator.
PW3082/60	Módulo PreFix de feixe incidente	com suporte para fendas fixas de divergência intercambiáveis, e
	fendas fixas de divergência	4; 2 ; 1 ; 1/2 e 1/4 graus.  Também usadas como de fendas anti espalhamento de feixe incidente.
PW3083/00		1/8; 1/16 e 1/32 graus. para medidas em baixo ângulo
	máscaras	de largura de feixe de 20,15,10 e 5 mm.
	Atenuadores para feixe divergente	Cobre 0,1 e 0,2 mm
	Filtro Beta	Folha de Ni para tubos de Cu
PW3086/00	suporte de fendas Anti-espalhemento fixas
	Fenda fixa 0,27	para o detector proporcional em medidas de Refletividade
PW3149/63	Monocromador Hibrido para feixe incidente	composto de um espelho de raios-x parabólico e um   monocromador de 2 cristais Ge (2 2 0).
	Fendas divergentes fixas  para Monocromador Híbrido
PW3086/20	Suporte de fenda soller e máscara	para o Monocromador Híbrido
	Máscaras para Monocromador Híbrido	2;  4; 10 e  20 mm
	Atenuadores para Monocromador Híbrido	0,1 mm Cu; 0,2mm Cu+0,02mm Ni ; 0,02mm Ni
PW3084/60	Modulo PreFix de feixe incidente com colimadores tipo cup	para aplicações de foco ponto . Cups de divergência de textura de 4,2,e 1mm com máscaras dos cups de 2, 1, 0.5 e 0.25 estão incluídos. Um conjunto de máscaras de feixe difratado também estão inclusas (20,10,4 e 2mm)
943050028341	Microscópio de alinhamento	com seu  Módulo PreFix (PW3019/10)
PW3123/10	Monocromador curvo de feixe difratado	para radiação de Cu e detector proporcional de Xe
PW3122/10	Monocromador plano de feixe difratado	para radiação de Cu e detector linear Xcelerator
	Colimador/soller para Monocromador plano
Detectores
PW3015/20	Detector linear de estado sólido X’Celerator	com tecnologia “RTMS -Real Time Multiple Strip ” (100 vezes mais rápidas que detectores pontuais).
PW3011/20	Detector Proporcional de Xe	com janela de 20x24mm. PW3717/10 Fonte de alta tensão do detetor
PW3099/70	Braço prolongador	do prefix dos detectores para medidas em transmissão
Estágios e porta amostras
PW3071/60	“Bracket”	Estágio PrefiX para amostras planas (pastilhas, lâminas, filmes, etc..)
PW3063/00	Estagio goniométrico	para amostras em capilar, com sistema de rotação da amostra.
PW3064/60	spinner	Estágio PrefiX para reflexão e transmissão com rotor/spinner controlado por software com velocidades de rotação selecionáveis entre 0,0625 rps e 2 rps;
PW3064/10	Faca de feixe para o spinner	para reduzir radiação indesejada no detector, especialmente para medidas em baixos angulos
	Faca de feixe para o bracket
PW1811/00		Jogo de bases para suportes de amostras PW1811/16
PW1811/16		suportes de amostras com cavidade de 16 mm de diâmetro
PW1811/27		suportes de amostras com cavidade de 27 mm de diâmetro
PW1813/40		suportes para amostras prensadas ou substratos com diâmetro máximo de 37.5 mm e máximo de 40.3 mm
PW1818/40		Suporte de amostras para transmissão. PW1818/25 Inserte
PW1819/25	suportes de amostras de  zero background	para análise de amostras de pequeno volume
943050021011	Filmes  transparentes aos raios X (Kapton)	para preparação des amostras que serão medidas por transmissão.
PW3068/00	Estagio goniométrico ATC-3	para análise de textura com rotação Phi, Psi, translação da amostra (x) (-5 a +5)  e oscilação para amostras de até 32mm de diâmetro.
943050027761	Câmara de alta temperatura (<1600°C)  HTK 16	943050027771 Filamento de aquecimento PT 1.0mm. 943050020101 Equipamento de vácuo (turbo-molecular) para a HTK
Amostras padrão
	Disco Fluorescente	de 32 mm para procedimentos de alinhamento do difratômetro
	Silicio policristalino	de 32 mm para verificação rotineira do difratômetro,
	LaB6	amostra em pó para verificação do difratômetro,	NIST 660 b
	Y2O3	amostra em pó para verificação do difratômetro,	IPEN (cortesia do Prof. Dr. Luis Galego)
	CeO2	amostra em pó para verificação do difratômetro,	IPEN (cortesia do Prof. Dr. Luis Galego)
	Al2O3	amostra em pó para verificação do difratômetro,	IPEN (cortesia do Prof. Dr. Luis Galego)
	faca de alinhamento	single knife edge,  para procedimentos de alinhamento do difratômetro
PW3132/62	Silicio (1 1 1) de 15×10 mm	em suporte de 32 mm de diâmetro para medidas de alta resolução
PW3132/62	filme fino de cromo (10 – 40 nm)	em substrado  para medidas de refletividade
PW3132/61		Tungstênio (W) sobre vidro: referência “sem stress” para medidas de tensão residual; Chapa de aço 10 para proteção do W; Chapa de cobre laminada para textura.
Recursos de informática
943050070991	computador	Pentium IV com Windows XP com Monitor flat – 19″( 943050070591)
PW3240/92	software X’Pert Data collector	controla o equipamento
PW3212/92	software X’Pert High Score Plus v.	integra identificação de fases e cristalografia ; analise quantitativa pelo método de Rietveld
943050027231	banco de dados ICDD PDF2 (2006)	Licença de uso – edição especial para universidades e orgãos educadores.
PW3211/92	software X’Pert Texture
	software X’Pert Relfetivity
	Impressora	Laser colorida