ÚLTIMOS DIAS PARA inscrições na 2ª edição da Escola de Altos Estudos em Cristalização e Cristalografia para a América Latina (ECRISLA 2013), que será realizada de 14 a 25 de outubro, na Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC). São oferecidas 50 vagas. Nesta edição serão tratados aspectos teóricos e práticos dos métodos cristalográficos aplicados à determinação da estrutura química de materiais. Os temas propostos para a Escola envolvem toda ciência dos materiais, controle e descrição de processos de cristalização industrial, nanotecnologia e, especialmente, polimorfismo e co-cristalização de fármacos.

Professores convidados

Prof. Peter Müller (MIT Chemistry Department; EUA)

Prof. Paolo Scardi  (Dipartimento di Ingegneria dei Materiali e Tecnologie Industriali, Università di Trento; Itália)

Prof. Joel Bernstein (Professor Emeritus at Ben-Gurion University in Beer Sheva and Professor of Chemistry at New York University Abu Dhabi; Emirados Árabes Unidos)

Prof. Robert Dinnebier (Max Planck Institute for Solid State Research in Stuttgart, Alemanha)

Prof. Eduardo Granado (Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW) da Unicamp, Brasil)

Outras informações e inscrições (até 20 de setembro) pelo endereço http://ecrisla2013.ufsc.br/.

Estão disponiveis os novos formulários para credenciamento de projeto de pesquisa e solicitação de uso/agendamento do LDRX, bem como o novo formulário para solicitação de serviços. Além disso, o termo de compromisso agora aparece em documento em separado (necessário somente para projetos aprovados). Vale lembrar que após ter um projeto de pesquisa aprovado no LDRX os agendamentos que visam dar continuidade as pesquisas envolvendo tal projeto podem ser feitos através do envio de um simples e-mail para ldrx@fisica.ufsc.br (não esqueça de citar o título do projeto já aprovado no corpo da mensagem). Em caso de dúvidas não hesite em nos contatar pelo mesmo e-mail.

Os novos itens adquiridos com recursos do Edital CAPES/Pró-Equipamentos de 2011 são os seguintes:

– Software de tratamentos de dados de refletividade;

– Monocromador para o detector rápido (Xcelerator);

– Fendas soller 0,02 rad;

– Suporte de soller e máscaras para o Monocromador Híbrido, e

– Faca para o porta amostras de filmes (Bracket).